固體表面Zeta電位分析儀采用電聲學(xué)原理來測量顆粒的電動特性。在分散系中加入1個高頻的電場，則帶電顆粒相相應(yīng)電場內(nèi)進行電泳。
如果在顆粒與液體之間產(chǎn)生1個密度差，則這種運動會產(chǎn)生1個交互的聲波。采用該電場和對應(yīng)的聲波技術(shù)可對樣品進行無干擾的測量，不會破壞樣品的特性。
其他技術(shù)如微量電泳和電泳光散射技術(shù)，須要樣品被稀釋，須要將原始濃度的樣品放大稀釋好幾倍。因此，用戶須在人為的狀態(tài)下分析顆粒樣品的特性，而不是獲得實際狀態(tài)下樣品的真實特性描述。
并且，嚴格的光學(xué)聚焦和擴展調(diào)整來適應(yīng)靜態(tài)的層裝樣品，使得微量電泳技術(shù)變得非常煩瑣，而大的直流電場可導(dǎo)致樣品的PH發(fā)生漂移。如果采用ZetaFinder型電位分析儀，則這些問題將不復(fù)存在。
固體表面Zeta電位分析儀的特點如下：
1)采用的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。
2)提供數(shù)據(jù)快速準確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋，Zeta電位將*改變);
3)該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作;
4)堅固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨立的容器中;
5)自動滴定法用于簡單的IEP測量;
6)樣品可被強烈攪拌或混合，因此不會產(chǎn)生沉淀物;
7)高頻電場采用非常短的脈沖，因此樣品測量時不會產(chǎn)生錯誤;
8)可實時測量實際樣品;
9)不使用光學(xué)技術(shù)，因此可以在任何pH值下分析固體、不透明或半透明樣品;
10)可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒;
11)該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒炛蝎@取，可直接實時獲得理想的數(shù)據(jù)
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