固體表面ZETA電位分析儀是一種用于化學、材料科學領域的分析儀器
提到固體表面Zeta電位分析儀，我們需要先了解一下zeta電位，Zeta 電位基礎理論的創(chuàng)立者是波蘭科學家斯莫魯霍夫斯基(Smoluchowski)zeta電位是帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子(即反離子)，其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合，構成固定吸附層，又稱Stern層;
另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相反作用的平衡，分布在顆粒周圍溶液中，構成擴散層。位于Stern層的反離子由于強大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱，形成了擴散層。
兩層之間的邊界被定義為滑動層或剪切層。顆粒做電泳運動時，會帶著固定吸附層和部分溶劑分子一起移動，與液體之間形成滑動面，定義滑動面與液體內(nèi)部的電位差為zeta電位分析儀。
說完了zeta電位的定義之后我們來看看影響固體表面Zeta電位分析儀的因素有哪些?影響Zeta 電位的因素有很多，最主要有三點：
(1)pH的變化
(2)電導率 (濃度，鹽的類型)
(3)組成成分濃度的變化 (如高分子，表面活性劑)
之所以用zeta電位分析儀來檢測樣品，主要是Zeta電位在儀器儀表行業(yè)的重要性表現(xiàn)其數(shù)值與膠體的穩(wěn)定性相關，是對顆粒之間相互排斥力強度的度量。
zeta電位越高，顆粒間排斥力越大，，顆粒分散性越好，體系就越穩(wěn)定;反之，zeta電位越低，顆粒間排斥力越小，體系越不穩(wěn)定，從而導致凝結(jié)或凝聚。一般來說，zeta電位的絕對值大于30mV時，體系穩(wěn)定，小于30mV時，體系不穩(wěn)定。
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